Difractómetro de rayos X portátil edición de investigación industrial

Las muestras mediante instrumento de difracción de rayos X, análisis del patrón de difracción, material con composición material, información interna como estructura o forma atómica o molecular (ingrediente material, ingredientes secundarios o elementos traza de la información de identificación de la fase cristalina) Tiene una preparación de muestra simple, sin contaminación, medición rápida y de alta precisión, puede obtener mucha información sobre la integridad del cristal. Es el método principal para estudiar la fase y la estructura cristalina de la materia.

Está en el haz de rayos X a través de la ubicación de la muestra utilizando tecnología de geometría de transmisión, haz de rayos X de emisión de tubo de rayos X de microenfoque a través del colimador irradiación de partículas de polvo en el conjunto de muestras, un sistema de vibración único permitió que se colocaran más partículas de polvo de cristal. expuesto al haz de rayos X cuando cumple la ley de Bragg sobre la adquisición de CCD por el fenómeno de difracción del patrón de difracción. El tamaño de la muestra en el grupo de muestras es fijo, por lo que los cambios en la densidad de la muestra no afectan la resolución. Esta característica es especialmente importante para materiales de baja densidad, como muestras de fármacos, donde se puede lograr una mayor resolución con penetración fija en comparación con instrumentos basados ​​en geometría reflectante.

Ventaja

Portátil

El instrumento adopta un diseño de máquina todo en uno de caja resistente al agua y al polvo, sin piezas mecánicas móviles, ligero y compacto, fácil de transportar, puede realizar libremente investigaciones científicas de laboratorio/campo.

Integración

XRD está integrado con la tecnología XRF, y los datos de fotones de rayos X de AMBOS XRD y XRF se pueden recopilar al mismo tiempo durante cada prueba, proporcionando información sobre la composición, fase y estructura del material, promoviendo así resultados de prueba más precisos.

Fácil operación

El instrumento se opera fácilmente, no necesita calibración, detección automática. Visualización en tiempo real de difracción de espectro completo, análisis de fase automático, una clave para generar resultados cuantitativos.

Preparación de muestras sencilla

Un solo análisis solo necesita alrededor de 20 mg de muestra para obtener resultados de prueba de alta calidad. La preparación de la muestra se puede completar en 3 minutos (trituración, filtrado y muestreo) sin igualar, presionar y raspar.

Seguridad

Tratamiento profesional de radiación de protección múltiple, sin fugas de radiación en todas las direcciones al medir el instrumento.

Escenario de aplicación

Biofarmacéutico

Monitoreo ambiental

Geología y Prospección

Investigación y educación

Compuesto metálico

Química y catalizadores

Parámetro del producto

Resolución XRD	0.2°@2θ FWHM
Alcance de XRD	5-55°2θ
El detector	2000 X 256 píxeles, 2d, nivel 3 CCD de refrigeración Pelter
Objetivo del tubo de rayos X	Tubo de rayos X de punto microfocal en grupo, objetivo de Cu o Co, Cr, Fe, Ni, Mo, Ag, W (opcional según la muestra de prueba)
Tensión del tubo de rayos X	Máximo 50kV, 0-50kV ajustable
Alimentación del tubo de rayos X	Máximo 40W, 0-40W ajustable
Resolución de energía XRF	127eV@8keV
Rango de detección XRF	MgâU
Método de enfriamiento	Refrigeración por agua
Tamaño de partícula de la muestra	Partícula de muestra <150um (tamiz de malla 100)
Peso de la muestra	alrededor de 20 mg
Temperatura de trabajo	-10°C-35°C
Peso	15 kg
La fuente de alimentación	Batería de iones de litio o adaptador de corriente
Tamaño	50Ã40Ã18.8cmï¼LÃWÃHï¼
Lenguaje del software de análisis CrystalX	Chino, inglés y otros idiomas

1 paquete estándar exportado: protección anticolisión interna, embalaje externo en caja de madera para exportación.

2 Envío por expreso, aéreo o marítimo según los requisitos del cliente para encontrar la forma más adecuada.

3 responsable del daño durante el proceso de envío, cambiará la pieza dañada de forma gratuita.